Ziur egon zaitezke E4991B inpedantzia-aztertzaileak gure fabrikatik erosteko. E4991B inpedantzia-aztertzailea 1 MHz eta 3 GHz arteko maiztasun-tartea, % 0,65eko oinarrizko zehaztasuna inpedantzia-tarte zabalean, tenperatura-ezaugarriak aztertzeko materiala neurtzeko aukerak eta permitibitate eta iragazkortasunaren zuzeneko irakurketa funtzioa.
Ziur egon zaitezke gure fabrikatik E4991B inpedantzia-aztertzaileak erostea. E4991B Inpedantzia analizatzailea 1 MHz - 3 GHz
Keysight E4991B Inpedantzia Analyzer osagai elektronikoak, gailu erdieroaleak eta materialak karakterizatzeko eta ebaluatzeko soluzio ezin hobea da.
Hiru maiztasun-aukera berritzeko: 1 MHz-500 MHz/1 GHz/3 GHz
Oinarrizko zehaztasuna ±% 0,65 eta 120 mΩ eta 52 kΩ inpedantzia-tartea (% 10eko neurketaren zehaztasun-tartea)
Neurketa-parametroak: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, Vac, Iac, Vdc1, Idc1 (1. 001 aukera behar da)
DC polarizazio integratua (001 aukera): 0 V-tik ±40 V-ra, 0 A-tik ±100 mA-ra
4 kanal eta 4 arrastoko 10,4 hazbeteko koloreko LCDan ukipen-pantailarekin
Datuak aztertzeko funtzioa: zirkuitu baliokideen analisia, muga-lerroaren proba
Material dielektriko/magnetikoen neurketa (002 aukera): |εr|, εr', εr'', tanδ(ε), |μr|, μr', μr'', tanδ(μ)
Tenperatura-ezaugarriak neurtzeko (007 aukera) eta oblean neurtzeko gaitasun fidagarriak (010 aukera)
Materialak neurtzeko aukerak tenperaturaren ezaugarriak aztertzeko gaitasuna (007 aukera) eta permitibitate eta iragazkortasunaren irakurketa zuzeneko funtzioa (002 aukera) eskaintzen ditu.
Probe estazioaren konexio-kitak (010 aukera) 3 GHz-ra arteko oblean edo mikroosagaien inpedantzia neurtzeko irtenbide zehatza eskaintzen du.
E4991B-k neurketak errazak eta fidagarriak izan daitezen diseinatutako proba osagarri ugari onartzen ditu.
I+G, QA edo ikuskapenean zauden ala ez, E4991B osagai elektronikoak, gailu erdieroaleak eta materialak karakterizatzeko eta ebaluatzeko soluzio ezin hobea da.
Materialak neurtzeko, E4991B N1500A-005 materialen neurketa-multzoarekin funtzionatzen du eta neurtzeko erraztasunak eskaintzen ditu (1 GHz arte), instalazioak konfiguratzen hasi eta txostenak sortu arte.
| Informazio gehigarria: | RF IV, inpedantzia zehatza ebaluatzeko egokia Zirkuitu baliokideen analisia (7 eredu) Material neurketa. (002 auk.) Tenperatura ezaugarrien proba (007 auk.) On-wafer inpedantzia neurketa. zundaketa-estazioarekin (010 aukera) 4 kanal, 4 arrasto |
| Oinarrizko zehaztasuna: | %0,65 |
| DC alborapena: | 0 V-tik ±40 V-ra, 0 A-tik ±100 mA-ra (001 aukera) |
| Maiztasuna: | 1 MHz eta 500 MHz/1 GHz/3 GHz |
| Gehienezko maiztasuna: | 3 GHz |
| Neurketa: | RF-IV metodoa |
| Neurketa-tartea (zehaztasuna <% 10): | 120 mΩ-tik 52 kΩ-ra |
| Beste ezaugarri batzuk: | Zirkuitu baliokideen analisia, muga-lerroaren proba, etab. Material dielektriko/magnetikoen neurketa (002 aukera), Tenperaturaren ezaugarrien neurketa (007 aukera), |
| Ezaugarri bereziak: | n/a |
| Helburua DUT: | Erabilera Orokorreko gailua Materiala |
| Mota: | Inpedantzia analizatzailea |
